IC芯片的测试同ICT/FCT测试一样，也是有治具，只不过区分开来叫IC SOCKETS，设计上也更精密，治具精准度高，功能稳定，使用的探针是非常高质量的，那么IC SOCKETS选择探针需要考虑哪些因素呢？

1、探针的质量
探针的质量是非常重要的一点，现在国内一些厂商也可以做半导体测试探针，但是工艺不达标，做出来的产品非常差，通常考虑欧美进口或者韩国一些厂商的产品，减少探针出现问题对测试产生的影响。
　　
2、探针型号是否匹配socket
IC芯片测试有多种形式，所以不同形式的封装选择的探针规格是不同的，所以为了保证探针是符合需求的，需要认证选配符合需求的探针的型号，保证测试的顺利完成。
探针在IC测试中非常重要的一个部件，所以在选用和购买探针的时候要多加注意，才能保证最后测试的完美进行。

探针作为PCB测试或者半导体测试比较重要的部件，本身的机械性能和电气性能非常的重要，探针的好坏完全取决于这两个指标。机械性能主要是弹簧的弹力，弹力通常的范围在标注弹力的上下10%，比如1N的弹力，做出来的探针可能是0.9N这样，如果公差范围太大大，在测试中可能损伤PCB或者接触不良，使得接触电阻异常。

然后就是电子性能，上面说到的接触阻抗是非常重要的一点，理论上阻抗越小越好，但是由于自然界中不可能出现零电阻的材质，所以接触阻抗要在测试的时候保持稳定即可，通常和阻抗相关的因素主要有以下几点：

1、针头、外管和弹簧的材料；
2、外管的直径和针头直径的差值；
3、镀金层的厚度。

探针保持低而稳定的电阻值对弹簧探针的设计至关重要。弹簧探针所有零件的设计都对阻值有很大的影响。零件的外形、基材、电镀、表面粗糙度、弹簧弹力等等都会影响接触电阻。金属材料的阻值容易计算。然而，计算出金属与金属之间，精确的接触电阻会比较困难。通常在弹簧探针中，会有三个以上的接触点。（芯片触点和上测试针头之测试针头和套管之间，以及下测试针头和电路板触点之间,

我们可以测量弹簧探针的阻值，也可以只测量上测试针端和下测试针端之间的整体阻值。整体的阻值會涵蓋所有的内部接触电阻。