IC芯片的测试同ICT/FCT测试一样，也是有治具，只不过区分开来叫IC SOCKETS，设计上也更精密，治具精准度高，功能稳定，使用的探针是非常高质量的，那么IC SOCKETS选择探针需要考虑哪些

常用的测试探针是由针头、外管和弹簧三个组件构成，由于探针在应用中十分注重它的导电性、持久性和硬度等特性的强弱，所以在制造过程中电镀是非常重要的一环。在组装之前要对这些部分做特殊的电镀处理，这样才能组装

探针作为PCB测试或者半导体测试比较重要的部件，本身的机械性能和电气性能非常的重要，探针的好坏完全取决于这两个指标。机械性能主要是弹簧的弹力，弹力通常的范围在标注弹力的上下10%，比如1N的弹力，做出

探针保持低而稳定的电阻值对弹簧探针的设计至关重要。弹簧探针所有零件的设计都对阻值有很大的影响。零件的外形、基材、电镀、表面粗糙度、弹簧弹力等等都会影响接触电阻。金属材料的阻值容易计算。然而，计算出金属

测试探针是ICT/FCT测试针、BGA探针、高频探针、高电流探针的统一的叫法，无论什么探针都会有自己的寿命，探针的图册上一般都有自己的寿命，这个主要取决于弹簧的寿命。那么影响测试探针寿命的因素都有哪些

1、增强耐用度IC测试bai冶具测试针设计使弹簧空间比du传统探针zhi要大，因而可以达到更长的寿命和dao容纳更强的弹力。　　2、独有的永不间断电接触设计行程超过或不足2/3其电性接触皆能保持性低阻