常用的测试探针是由针头、外管和弹簧三个组件构成，由于探针在应用中十分注重它的导电性、持久性和硬度等特性的强弱，所以在制造过程中电镀是非常重要的一环。在组装之前要对这些部分做特殊的电镀处理，这样才能组装

测试探针是ICT/FCT测试针、BGA探针、高频探针、高电流探针的统一的叫法，无论什么探针都会有自己的寿命，探针的图册上一般都有自己的寿命，这个主要取决于弹簧的寿命。那么影响测试探针寿命的因素都有哪些

1、增强耐用度IC测试bai冶具测试针设计使弹簧空间比du传统探针zhi要大，因而可以达到更长的寿命和dao容纳更强的弹力。　　2、独有的永不间断电接触设计行程超过或不足2/3其电性接触皆能保持性低阻